成果信息
磁盘缺陷检测分析仪通过提高磁头以及放大电路的灵敏度，发现纳米级的微小磁盘缺陷，对发现的缺陷进行精确定位，杜绝缺陷的遗失。还能使用光学和原子力显微镜对缺陷类型进行高效和深入的分析，最后通过软件系统输出详细的分析报告。)
背景介绍
待添加)
应用前景
公安备案号 ：
43110302000213
